環境評估與減振效益量化
專為半導體與精密製程提供一站式微振量測（又稱微振動量測）服務，協助您在設備啟用前確認環境是否符合規範，確保設備免受振動干擾，維持製程良率與長期穩定性。
以下設備啟用前，建議進行微振動規格檢核：
原子力顯微鏡 (AFM)、電子顯微鏡 (SEM / TEM)、高倍率光學顯微鏡、半導體曝光機 / Stepper、光學元件模組鏡面加工設備等。
歡迎聯繫，由專業技術團隊為您提供微振檢測與快速報價！
